12-21
Fujiwork（富士）作為高精度測厚儀領域的專業1品牌，針對薄膜材料（從3μm超薄電子膜到3000μm厚包裝膜）的檢測需求，推出了多款適配型號，覆蓋實驗室抽檢、生產線連續檢測、高精度科研等多元場景。以下是適合薄膜檢測的核心型號及詳細適配信...
12-20
在追求效率的現代實驗室中，時間是最寶貴的資源。傳統的水分測定過程常常伴隨著漫長的等待和反復的調試——易結殼的樣品需要手動干預，熱敏性物質擔心過度加熱，面對多樣化的樣品，只能使用同一種干燥程序“碰運氣”……這一切等待與不確定，都因KETTFD...
12-20
日本KETT凱特FD系列紅外水分測定儀（FD-660、FD-720、FD-800）均基于干燥減重法核心原理，覆蓋基礎到高1端全場景需求。三款產品定位清晰，從基礎款、中端款到旗艦款，在精度性能、加熱控溫、測量模式及數據能力上逐級升級，價格與適...
12-20
在精密制造的全鏈條中，厚度精度是貫穿產品研發、生產加工、質量檢測的核心指標，直接決定產品性能、市場競爭力與安全合規性。不同行業、不同材質的測厚需求千差萬別：電子行業的PCB基板需微米級精準測量，柔性材料行業的薄膜怕測量損傷，科研質檢需數據嚴...
12-20
在電鍍、電子、汽車零部件、線材線纜等精密制造領域，鍍層厚度的精準管控直接決定產品的耐蝕性、導電性、耐磨性與使用壽命，更關乎企業的產品競爭力與市場認可度。面對極薄鍍層測量、多層/合金鍍層分層檢測、異形工件裝夾難等行業痛點，常規測厚設備往往力不...
12-20
在電子元器件朝著微型化、高精度方向飛速發展的今天，手機、醫療器械、小型家電等產品中的貼片功率電感、微型電機線圈、扼流圈等核心部件，正不斷趨向“低電感、小體積”升級。隨之而來的，是線圈匝間絕緣檢測的巨大挑戰——傳統檢測設備要么無法對低至0.1...
12-18
在高速光互連、聚合物光波導及光電模塊的研發與品控過程中，插入損耗的精確評估是衡量系統性能、保證信號傳輸質量的核心環節。一個微小分貝的誤差，可能意味著設計缺陷的漏判或合格產品的誤廢。然而，許多工程師在搭建測試系統時，往往專注于探測器、儀表和算...
12-17
一、半導體制造：納米級工藝的精度基石作為半導體制造的“水平穩壓器”，SELN-001B直接決定芯片良率與性能，覆蓋從前端到后端的全工藝鏈：光刻工藝核心校準應用環節：EUV/DUV光刻機晶圓臺調平、光學系統（反射鏡/透鏡組）角度校準核心需求：...
12-17
一、產品核心競爭力：技術賦能，破解行業痛點在高精度篩分領域，堵網、篩分效率低、粒度控制不準一直是行業核心痛點。日本筒井理化SWM-2AT音波篩粉機憑借超聲波諧振核心技術，從根源上解決了這些難題，構建起強大的產品競爭力。其將18-40kHz高...
12-17
在發動機缸蓋生產線上，一個在線檢測單元正以每次3秒的節拍對每一個螺紋孔進行百分之1百檢驗。這背后是一臺來自日本Micro-fix的MTD-100渦流探傷儀在工作。它替代了過去可能遺漏缺陷的人工抽檢，將誤檢率牢牢控制在0.5%以下。01制造痛...
